Sequentielle Röntgen-Fluoreszenz- Analyse (XRF)
Methodenbeschreibung:
Die RFA ist eine zerstörungsfreie analytische Technik zur Identifizierung und Konzentrationsbestimmung von Elementen in Festkörpern, Pulverproben und Flüssigkeiten.
Grundlagen:
Wenn man Atome mit hochenergetischen Röntgen-Photonen anregt, werden Elektronen in Form von Photoelektronen aus dem Bereich der inneren Elektronenschalen herausgeschlagen. Die so entstandene instabile Elektronen- Leerstelle in einer oder mehreren Elektronenschalen werden von Elektronen aus den äußeren Schalen unter Abgabe der Überschussenergie in Form von Sekundär- Röntgenphotonen ersetzt. Dieses Phänomen ist als "Röntgenfluoreszenz" bekannt. Die Energie des emittierenden Fluoreszenz- Photons ist charakteristisch für das entsprechende Element (E = hc/l). Ebenso ist die Anzahl der emittierenden Photonen proportional zur Konzentration des Elements in der Probe.
Messtechnik und Apparative Austattung:
Verwendet wird ein Sequenzspektrometer mit einer 3kW Rh-Stirnfenster- Röhre, 35 mm Strahl-Ø (im 5er Raster auf 1mm-Ø abblendbar), mit eigenem Kühlkreislauf mit Leitfähigkeitskontrolle, 12-fach Probenwechsler. Die Fluoreszenzstrahlung wird mit verschiedenen Analysatorkristallen spektrometrisch zerlegt (Bragg'sches Gesetz) und die Aufzeichnung der Spektren erfolgt durch Schrittabtastung des Beugungswinkel- Bereichs. Als Detektor für die "harte Röntgenstrahlung" (Ti-U) wird ein Szintillationszähler und für die " weiche Röntgenstrahlung" (Na-Ti) ein Proportionalzählrohr verwendet.
Eine qualitative Analyse erfolgt durch den Vergleich des gemessenen Spektrums mit einer gespeicherten Linienbibliothek. Die semiquantitative Analyse erfolgt mit einem Fundamentalparameter-Programm. Die Signale werden unter Verwendung gespeicherter Element-Empfindlichkeits-Bibliotheken umgerechnet. Berücksichtigt werden auch Matrixeinflüsse und Materialverunreinigungen, wie Probenträger und Fixierungsmaterialien.
Frau Dr. A. Besmehn Tel.: 02461-61 6774
Letzte Änderung: 2.2.2015